一分鐘，快速了解“多通道RCS測(cè)試系統(tǒng)”

2025年6月24日產(chǎn)品中心 910

還在為傳統(tǒng)緊縮場(chǎng)測(cè)試效率低、頻段覆蓋有限而煩惱？最新研發(fā)的多通道RCS測(cè)試系統(tǒng)來(lái)了！0.3GHz～40GHz全頻段覆蓋，支持雙極化、單/多通道測(cè)試，一鍵實(shí)現(xiàn)RCS測(cè)量、成像、材料反射率分析，效率提升5-10倍！

?? 核心優(yōu)勢(shì)：
18G以下全頻段一次測(cè)量：0.3GHz～18GHz寬頻覆蓋，支持掃頻、點(diǎn)頻測(cè)試；

全自動(dòng)化測(cè)試：轉(zhuǎn)臺(tái)控制、數(shù)據(jù)采集全自動(dòng)化，操作更便捷；

超高精度：背景對(duì)消后頻域電平低至-70dBsm，最小可測(cè)RCS達(dá)-50dBsm（±1dB測(cè)量不確定度）；

高度集成：饋源及儀表系統(tǒng)全集成連接，頻段/極化切換實(shí)現(xiàn)100%程控，無(wú)需手動(dòng)調(diào)整/拆裝。

1、系統(tǒng)特點(diǎn)

多通道RCS測(cè)試系統(tǒng)，主要用于緊縮場(chǎng)RCS測(cè)試暗室中，配合多臺(tái)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（或?qū)Ｓ脺y(cè)量雷達(dá)）及專用測(cè)控軟件、雙極化寬帶饋源及其陣列布局等，可實(shí)現(xiàn)0.3GHz～18GHz全頻段目標(biāo)散射特性的一次測(cè)量，比常規(guī)緊縮場(chǎng)儀表系統(tǒng)測(cè)試效率提高5～10倍。

2、技術(shù)指標(biāo)

工作頻率范圍：0.3GHz～40GHz；
極化方式：H-H、V-V、H-V、V-H；
測(cè)試功能：轉(zhuǎn)角點(diǎn)頻測(cè)試，固定角度掃頻測(cè)試，轉(zhuǎn)角掃頻測(cè)試，目標(biāo)一維成像、二維成像，材料反射率測(cè)試；
成像分辨率：優(yōu)于4cm@4GHz帶寬（矩形窗）；
系統(tǒng)軟硬件集成度高，即轉(zhuǎn)臺(tái)控制、儀表控制、頻段切換、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)后處理等功能集成在同一軟件中，便于操作、界面友好；
系統(tǒng)具備軟件域門功能、硬件域門功能。

6m靜區(qū)以下緊縮場(chǎng)，矢量背景對(duì)消后，頻域背景電平：

饋源頻段劃分	單通道模式	多通道模式
0.3～0.8GHz	-65dBsm	-65dBsm
0.8～2GHz	-75dBsm	-75dBsm
2～6GHz		-75dBsm
6～12GHz		-65dBsm
12～18GHz		-65dBsm
18～26.5GHz	-65dBsm	\
26.5～40GHz	-65dBsm	\

最小可測(cè)RCS（精度±1dB）：

饋源頻段劃分	單通道模式	多通道模式
0.3～0.8GHz	-40dBsm	-40dBsm
0.8～2GHz	-50dBsm	-50dBsm
2～6GHz		-50dBsm
6～12GHz		-40dBsm
12～18GHz		-40dBsm
18～26.5GHz	-40dBsm	\
26.5～40GHz	-40dBsm	\

3、軟件功能

設(shè)備控制

儀表系統(tǒng)控制	遠(yuǎn)程、本地設(shè)置測(cè)試系統(tǒng)工作參數(shù)，啟動(dòng)系統(tǒng)完成測(cè)試，采集并存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)。
饋源支架控制	通過(guò)網(wǎng)絡(luò)接口或串口對(duì)饋源支架上的饋源安裝平臺(tái)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，使饋源按照測(cè)試需求進(jìn)行配合運(yùn)動(dòng)；控制饋源支架進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或平移運(yùn)動(dòng)。
轉(zhuǎn)臺(tái)（低散射金屬支架轉(zhuǎn)頂）控制	通過(guò)網(wǎng)絡(luò)接口或串口對(duì)轉(zhuǎn)臺(tái)（低散射金屬支架轉(zhuǎn)頂）進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，可以設(shè)置旋轉(zhuǎn)方向、旋轉(zhuǎn)速度、旋轉(zhuǎn)角度、步進(jìn)角度等參數(shù)，控制轉(zhuǎn)臺(tái)（低散射金屬支架轉(zhuǎn)頂）按照測(cè)試需求進(jìn)行配合運(yùn)動(dòng)。
其他設(shè)備	射頻儀器、控制儀器等一切需要遠(yuǎn)程控制的設(shè)備。

數(shù)據(jù)采集及自動(dòng)化測(cè)試

一鍵啟動(dòng)測(cè)試，自動(dòng)控制轉(zhuǎn)臺(tái)、矢網(wǎng)、射頻儀器等協(xié)同工作；
多種測(cè)試方式：轉(zhuǎn)角點(diǎn)頻測(cè)試、定角掃頻測(cè)試、轉(zhuǎn)角掃頻測(cè)試等；
采集回波曲線實(shí)時(shí)顯示功能；
時(shí)域/頻域轉(zhuǎn)換功能。

數(shù)據(jù)處理

目標(biāo)散射特性數(shù)據(jù)處理	RCS處理、一維成像、二維成像、材料反射率測(cè)試處理。
數(shù)據(jù)展示及輸出	繪制一維（采樣曲線、時(shí)域一維像）、二維像，并支持打印輸出。
其他數(shù)據(jù)處理功能	對(duì)數(shù)據(jù)（曲線）進(jìn)行平滑、截取、平移、求平均值、對(duì)消、拼接合成、概率統(tǒng)計(jì)分析等處理功能；具備二維像摳像、取像及反演，二維像疊像、替換及反演功能；支持批量平均、定標(biāo)體RCS計(jì)算、word報(bào)告生成等。

其他

擴(kuò)展功能接口

提供標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)接口，更多的測(cè)試、數(shù)據(jù)處理、分析功能可以通過(guò)動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)的方式，作為功能插件嵌入到軟件平臺(tái)中。按照軟件給出的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)接口，使用者可以根據(jù)自己的需求編寫各種新的處理腳本并嵌入原軟件平臺(tái)。